壓力衰減法密封檢漏儀-綜述

壓力衰減測(cè)試是一種用于檢測(cè)無孔、剛性或柔性包裝中泄漏的定量測(cè)量方法。如果加壓氣體的引人導(dǎo)致包裝壁或密封件破裂，則該測(cè)試是破壞性的。如果將氣引人測(cè)試樣品不會(huì)損害包裝屏障，則該測(cè)試是非破壞性的。壓力衰減測(cè)試旨在用測(cè)試樣品的氣體頂空區(qū)域的完整性檢測(cè)。

為了進(jìn)行測(cè)試，需將干燥空氣或惰性氣體壓力源連接到配有內(nèi)部壓力監(jiān)測(cè)裝置的測(cè)試樣品上，其測(cè)試樣品需被加壓至預(yù)定壓力，且之后需與壓力源隔離。在預(yù)時(shí)間內(nèi)的壓力衰減將被監(jiān)測(cè)。超過使用陰性對(duì)照確定的預(yù)定極限的壓力衰減表明容器存有泄漏。

綜述范圍

無孔、剛性或柔性包裝可被檢測(cè)：

1、        可以測(cè)試那些不受產(chǎn)品(例如油、水或其他液體)阻礙的包裝表面:這種方法不會(huì)檢測(cè)到液體填充水平以下的小泄漏

2、        當(dāng)暴露于測(cè)試壓力條件下時(shí)，柔性包裝或具有非固定組件的包裝分別需要用工具來限制包裝膨脹或移動(dòng)。其工具可最大限度地減小柔性包裝的密封強(qiáng)度。并在整個(gè)泄漏路徑上使包裝體積和壓差條件保持一致。

3、        壓力衰減可用于測(cè)試從體積幾毫升大型散裝儲(chǔ)存容器的任何包裝。測(cè)試需要幾秒到幾個(gè)小時(shí)才能完成。測(cè)試較大容量的容器需要更長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。延長(zhǎng)測(cè)試周期可檢測(cè)較小的泄漏。

壓力衰減測(cè)試在產(chǎn)品生命周期的任何階段都很有用。

測(cè)試可以在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中進(jìn)行，也可以在生產(chǎn)環(huán)境中線下進(jìn)行。允許長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室或線下測(cè)試設(shè)備通常能夠檢測(cè)較小的泄漏。在包裝填充和封閉之前，可以使用更高速的線上壓力衰減設(shè)備來檢查開口包裝中的缺陷。

壓力衰減測(cè)試儀器包括將測(cè)試樣品與測(cè)試系統(tǒng)壓力傳感器以及壓力源連接的導(dǎo)管。儀器包括合適的定時(shí)器、電子控制和監(jiān)視器。當(dāng)儀器保持在溫度受控的環(huán)境中時(shí);測(cè)試樣品(特別是體積較大的樣品)在測(cè)試過程中保持在受控的恒溫下;使用恒溫干燥加壓氣體時(shí)，可以獲得較大測(cè)試方法的靈敏度和重現(xiàn)性。可選擇使用單獨(dú)設(shè)計(jì)的工具分別限制可移動(dòng)或柔性部件的移動(dòng)或膨脹，從而保持測(cè)試樣品體積的恒定同時(shí)限制其密封強(qiáng)度。

技術(shù)參數(shù)

指標(biāo) 參數(shù)

真空度 0--100kPa

檢測(cè)孔徑精度 ＜3μm

設(shè)備操作 自帶HMI

內(nèi)部壓力 常壓

測(cè)試系統(tǒng) 真空傳感器技術(shù)

真空來源 外接真空泵

測(cè)試腔 根據(jù)樣品定做

檢測(cè)原理 真空衰減法/無損檢測(cè)

主機(jī)尺寸 500mmX360mmX320mm（長(zhǎng)寬高）

重    量 18Kg

環(huán)境溫度 20℃-30℃

相對(duì)濕度 80%,無凝露

工作電源 220V

壓力衰減法密封檢漏儀-綜述